納米級二氧化硅作為典型的納米顆粒材料具有分散性好，比表面積大，親水性、力學(xué)補強性、增稠性及防粘結性等特性，廣泛應用于電子封裝材料、高分子復合材料、塑料、涂料、橡膠、顏料、陶瓷、膠黏劑、玻璃鋼、藥物載體、化妝品及抗菌材料、油墨等領(lǐng)域。
二氧化硅納米顆粒表面存在大量的不同狀態(tài)的羥基不飽和殘鍵，親水疏油，易于團聚，必須要對其進(jìn)行功能化改性，以提高性能及應用范圍。
表面接枝率測定儀是一種用于測量二氧化硅納米顆粒表面上接枝分子或聚合物的含量或密度的儀器。它可以評估材料表面的功能化程度和接枝效果。
表面接枝率測定儀檢測原理：
LU 等科學(xué)家采用多洛倫茲分裂算法將游離 PEG 的NMR信號與接枝的 NMR信號區分開(kāi)，從而可以使用1H-NMR對接枝過(guò)程進(jìn)行原位監測。該方法的優(yōu)點(diǎn)是不受接枝基團末端官能團類(lèi)型、表面化學(xué)性質(zhì)、納米粒子或組成的限制，它還為相關(guān)科學(xué)研究提供表征納米顆粒上基團接枝密度的關(guān)鍵和標準指南。低場(chǎng)核磁技術(shù)因為其設備成本較低，使用簡(jiǎn)單，適用于宏觀(guān)樣品等特性，非常適用于快速測定顆粒表面接枝率測定。它通過(guò)MSE系列序列實(shí)現死時(shí)間內的1H核磁信號采集，最多的采集到了接枝在顆粒表面的基團中H原子核的信號，利用外標法進(jìn)行定量分析。
表面接枝率測定儀產(chǎn)品功能：
樣品：納米級二氧化硅
規格：可裝入10mm口徑試管，裝樣高度不超過(guò)2cm
注意事項：樣品不得含有鐵磁性物質(zhì)
表面接枝率測定儀產(chǎn)品優(yōu)勢：
1. 檢測成本低
2. 快速簡(jiǎn)單
3. 適用于宏觀(guān)樣品等特性
4. 無(wú)需任何專(zhuān)業(yè)操作員培訓
表面接枝率測定儀應用案例：
納米顆粒表面積接枝基團
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